La dotazione strumentale presente nel laboratorio di Microscopia Elettronica consente di effettuare accurate analisi morfologiche tridimensionali, a elevati ingrandimenti in alta risoluzione (SEM), su tutti i substrati solidi dei materiali tessili. Questi vengono analizzati in tutti gli stadi di lavorazione (fibre, nastri, filati, tessuti), applicando anche la Microanalisi Elementare (SEM-EDXS), la Microspettroscopia Infrarossa (Micro-FTIR) e la Microscopia a Forza Atomica (AFM).

Proprietà superficiali, composizione fibrosa e altri dettagli strutturali dei materiali tessili vengono documentati seguendo le modificazioni indotte dalle lavorazioni, dai trattamenti funzionali e dall’impiego nei diversi settori di utilizzo.

Il laboratorio è frequentato da ricercatori e tecnici impegnati in molte linee di ricerca dell’Istituto e svolge attività di supporto conto terzi per numerose aziende del settore tessile.

  • microscopio elettronico a scansione Zeiss EVO 10
  • sistema di microanalisi EDXS Oxford ISIS
  • microscopio a forza atomica Pacific Nanotechnology Nano-R2 SPM
  • microscopio FT-IR Nicolet iN10
  • microtomo Reichert-Jung BIOCUT
  • metallizzatore a sputtering- carbonatore Quorumtech Q150R-ES
  • indagini microscopiche di materiali tessili
  • documentazione morfologica di superfici e misure a elevati ingrandimenti
  • identificazione e analisi di composizione di fibre tessili in mista
  • studio di funzionalizzazioni (coating, etching, polimerizzazioni in situ, ecc.)
  • analisi di trattamenti chimico-fisici e danneggiamenti