La dotazione strumentale presente nel laboratorio di Microscopia Elettronica consente di effettuare accurate analisi morfologiche tridimensionali, a elevati ingrandimenti in alta risoluzione (SEM), su tutti i substrati solidi dei materiali tessili. Questi vengono analizzati in tutti gli stadi di lavorazione (fibre, nastri, filati, tessuti), applicando anche la Microanalisi Elementare (SEM-EDXS), la Microspettroscopia Infrarossa (Micro-FTIR) e la Microscopia a Forza Atomica (AFM).
Proprietà superficiali, composizione fibrosa e altri dettagli strutturali dei materiali tessili vengono documentati seguendo le modificazioni indotte dalle lavorazioni, dai trattamenti funzionali e dall’impiego nei diversi settori di utilizzo.
Il laboratorio è frequentato da ricercatori e tecnici impegnati in molte linee di ricerca dell’Istituto e svolge attività di supporto conto terzi per numerose aziende del settore tessile.
